Çѱ¹°úÇбâ¼ú¿ø(KAIST)Àº ÃÖ±Ù ½Å¼ÒÀç°øÇаú ±è»ó¿í ±³¼ö°¡ ÆíÁýÀ» ÁÖµµÇÑ 'ÆÄƼŬ'(Particle & Particle Systems Characterization) ÁöÀÇ Æ¯ÁýÈ£°¡ Áö³´Þ 22ÀÏ ¹ß°£µÆ´Ù°í ¹àÇû´Ù.
µ¶ÀÏ ¿ÍÀϸ®»ç°¡ ¹ß°£ÇÏ´Â ÆÄƼŬ Áö´Â ÀÔÀÚÀÇ ÇÕ¼º°ú ÀÀ¿ë¹æ¹ýÀ» ´Ù·ç´Â Àü¹® SCI ±¹Á¦ÇмúÁöÀÌ´Ù.
À̹ø ƯÁýÈ£´Â '²ÞÀÇ ½Å¼ÒÀç'ÀÎ ±×·¡ÇÉ(È濬ÀÇ ÇÑ Ãþ¿¡¼ ¶¼¾î³½ 2Â÷¿ø ź¼Ò³ª³ë¹°Áú)ÀÇ »ó¿ëÈ¿¡ °¡Àå °¡±î¿î ±×·¡ÇÉ »êȹ°¿¡ ´ëÇÑ ³»¿ëÀ» ´Ù·ç°í ÀÖ´Ù.
±×·¡ÇÉ »êȹ°ÀÇ ¾×Á¤À» ÀÌ¿ëÇϸé À̵éÀÇ ¹è¿¹æÇâÀ» ³ª³ë¹ÌÅÍ(§¬·10¾ïºÐÀÇ 1£í) ¼öÁØÀ¸·Î ½±°Ô Á¶ÀýÇÒ ¼ö ÀÖ¾î °í±â´É¼º ¼ÒÀ縦 ¸¸µå´Â µ¥ ±â¿©ÇÒ °ÍÀ¸·Î ±â´ëµÈ´Ù.
±è ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀÀº 2011³â ÃÖÃÊ·Î ±×·¡ÇÉ »êȹ°ÀÌ °íü¿Í °°Àº ¾×Á¤¼ºÀ» °®´Â´Ù´Â °ÍÀ» óÀ½À¸·Î ¹àÇô³½ °ø·Î·Î À̹ø ƯÁýÈ£ÀÇ ÆíÁýÀ§¿øÀ¸·Î Âü¿©Çß´Ù.
À̹ø ƯÁýÈ£¿¡´Â °ü·Ã ºÐ¾ß ¼¼°èÀû ¼®ÇÐ 20¸íÀÌ Âü¿©ÇßÀ¸¸ç, ±è ±³¼ö ¿¬±¸ÆÀÀÇ ±×·¡ÇÉ »êȹ° ¾×Á¤ ¼¶À¯ÀÇ Ã˸ÅÈ ¿¬±¸¸¦ ºñ·ÔÇØ ¡ã ±×·¡ÇÉ »êȹ° ¾×Á¤ÀÇ Æ¯¼º Á¶Àý ¹× ºÐ¼® ¡ã °í±â´É¼º ±×·¡ÇÉ »êȹ° ¾×Á¤ ¼¶À¯ Á¦ÀÛ ¡ã ¾×Á¤¼ºÀ» ÀÌ¿ëÇÑ »ïÂ÷¿ø ±¸Á¶Ã¼ Á¦ÀÛ ¡ã ±×·¡ÇÉ »êȹ° ¾×Á¤ ±â¹Ý Ã˸ŠµîÀÇ ¿¬±¸ ¼º°ú µîÀÌ ´ã°å´Ù.
±è»ó¿í(¿ÞÂÊ) ±³¼ö |
À±½ÂÈÆ ±âÀÚ press@jeonpa.co.kr
<ÀúÀÛ±ÇÀÚ © ÀüÆĽŹ®, ¹«´Ü ÀüÀç ¹× Àç¹èÆ÷ ±ÝÁö>